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幹法刻蝕原理
幹法刻蝕原理
更新时间:2025-12-22 11:43:52

工藝目的:通過化學反應腐蝕掉矽片背面及四周的PN結,以達到正面和背面絕緣的目的,同時去除正面的磷矽玻璃層。

工藝材料:合格的多晶矽片(擴散後)、H2SO4(98%,電子級)、HF(40%,電子級)、KOH(50%,電子級)、HNO3(65%,電子級)、DI水(大于15 MΩ·cm)、壓縮空氣(除油,除水,除粉塵)、冷卻水等。

工藝原理:

Rena Inoxide刻蝕工藝主要包括三部分:

硫酸、硝酸、氫氟酸 氫氧化鉀 氫氟酸

本工藝過程中,硝酸将矽片背面和邊緣氧化,形成二氧化矽,氫氟酸與二氧化矽反應生成絡合物六氟矽酸,從而達到刻蝕的目的。

刻蝕之後經過KOH溶液去除矽片表面的多孔矽,并将從刻蝕槽中攜帶的未沖洗幹淨的酸除去。

最後利用HF酸将矽片正面的磷矽玻璃去除。并用DI水沖洗矽片,最後用壓縮空氣将矽片表面吹幹。

工藝流程 略

主要控制點 略

工藝準備 略

注意事項 略

詳細内容可關注後獲取

幹法刻蝕原理(濕法刻蝕工藝流程)1

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